產品目錄

產品圖片產品名稱型號產品概述
    • 水稻整穗考種儀
    • TPDS-X-1 plus
    • 水稻整穗考種儀采用先進的圖像處理技術,根據深度學習算法綜合設計的一款軟件。該設備主要應用在水稻室內考種時期,對水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度測量,為水稻形態學的研究、水稻良種選育提供良好的檢測工具。 廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。


    • 水稻表型檢測系統
    • TPS-BX-1
    • 水稻表型檢測系統可測量水稻株高、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標。


    • 小麥表型檢測系統
    • TPM-BX-1
    • 小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標。


    • 玉米表型檢測系統
    • TPY-BX-1
    • 玉米表型檢測系統可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標。


    • 大豆表型檢測儀
    • TPD-BX-1
    • 大豆表型檢測儀可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標,這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。


    • 千粒重儀
    • V2.0
    • 千粒重儀利用圖像識別、圖像分割、圖像處理等技術,能夠檢測種子形狀,自動計算種子粒數和千粒重,可測量計數所有常見種子,包括玉米,水稻,小麥,大豆,油菜籽,花生,芝麻,綠豆,紅豆,草籽等。


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